納米粒度和zeta電位的測(cè)試方法有很多種，粒度可以采用動(dòng)態(tài)光散射原理、超聲波衰減法、電鏡等來做測(cè)試，zeta電位測(cè)試方法主要有相位分析光散射（PALS）法、電聲法、流動(dòng)電位法、顯微電泳法等。每種方法都有其各自的優(yōu)劣勢(shì)。今天就動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度和相位分析光散射（PALS）法測(cè)試zeta電位做個(gè)介紹。

一、納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：

隨著科技的發(fā)展納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域很廣泛，比如：醫(yī)藥、材料、鋰電、涂料、化妝品、航天、環(huán)保等。在制造過程中的質(zhì)量控制，可以采用在線納米粒度儀，藥物輸送系統(tǒng)優(yōu)化等；zeta電位的測(cè)試可以用來評(píng)價(jià)樣品狀態(tài)穩(wěn)定性，化妝品和工業(yè)乳液穩(wěn)定性研究；納米顆粒制備和合成工藝優(yōu)化，先進(jìn)的膠體穩(wěn)定性分析和優(yōu)化，聚合物的表征。

今天小編以蔗糖鐵溶液為案例，給大家簡單介紹下動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度及相位分析光散射法測(cè)試zeta電位。

檢測(cè)前準(zhǔn)備

（1）樣品展示：

蔗糖鐵溶液主要為呈現(xiàn)深褐色，顏色比較深，對(duì)于zeta電位的測(cè)試是很有挑戰(zhàn)的。粒度測(cè)試也有難度。這對(duì)于儀器的精度和技術(shù)有比較高的要求。

（2）分析儀器：動(dòng)態(tài)光散射DLS納米粒度及zeta電位分析儀 

型號(hào)：ZS 920

二、檢測(cè)步驟：

通過之前的文章我們知道有流動(dòng)電位法，流動(dòng)電流法，顯微電泳法，電泳光散射法等測(cè)量方法，其中流動(dòng)電位法，流動(dòng)電流法可以測(cè)量幾乎所有尺寸的宏觀固體表面上的zeta電位，特別適合于測(cè)量膜等大尺寸平面樣品的zeta電位；顯微電泳法，電泳光散射法適于測(cè)量膠體顆粒的zeta電位，我們的蔗糖鐵溶液就是通過電泳光散射法來測(cè)量的。下面就是具體的檢測(cè)步驟。

1）打開儀器后面的開關(guān)及電腦顯示器。

2）打開操作軟件，選擇所要保存數(shù)據(jù)的文件夾

3）將待測(cè)溶液加入粒度樣品池比色皿（水相用塑料，有機(jī)相用玻璃）中，插入樣品槽，蓋上儀器外蓋。

4）設(shè)定測(cè)試參數(shù)

5）開始測(cè)量

6）數(shù)據(jù)分析

三、測(cè)試數(shù)據(jù)：

1）粒度測(cè)試結(jié)果展示

2. zeta電位測(cè)試結(jié)果展示

四、我們的優(yōu)勢(shì)：

梓夢(mèng)科技的納米粒度及zeta電位分析儀具有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

（1）高效的信噪比和抗干擾能力，它是利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，從而有效地提高了信噪比和抗干擾能力。

（2）先對(duì)散射光信號(hào)進(jìn)行頻譜預(yù)分析，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移。

（3）基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的測(cè)量精度。

（4）Henry函數(shù)的取值：使用最小二乘曲線擬合算法對(duì)Wiersema計(jì)算的精確Henry函數(shù)值進(jìn)行擬合， 得到優(yōu)化Henry函數(shù)表達(dá)式.

（5）強(qiáng)大易用的控制軟件；ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測(cè)量功能，一鍵式測(cè)量，具有符合21CFR Part11要求的軟件，滿足制藥企業(yè)用戶對(duì)數(shù)據(jù)管理的要求。

   如對(duì)動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位分析儀有更多疑問隨時(shí)歡迎